CCIT 陽(yáng)性樣品制備:這是目前應(yīng)用較多,較接近真實(shí)漏孔的陽(yáng)性樣品制備方法,可以在包材任意部位激光打孔(小2微米) ,并且每一支陽(yáng)性樣品均具有反應(yīng)真實(shí)漏率的校準(zhǔn)證書(shū)。
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產(chǎn)品分類13296018069
CCIT 陽(yáng)性樣品制備:這是目前應(yīng)用較多,較接近真實(shí)漏孔的陽(yáng)性樣品制備方法,可以在包材任意部位激光打孔(小2微米) ,并且每一支陽(yáng)性樣品均具有反應(yīng)真實(shí)漏率的校準(zhǔn)證書(shū)。
查看詳情LSA激光頂空分析儀:校準(zhǔn):自動(dòng)多點(diǎn)校準(zhǔn);提供校準(zhǔn)樣品用于校準(zhǔn)校驗(yàn);校準(zhǔn)時(shí)間: 大約 58 秒
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